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潤(rùn)滑油金屬元素測(cè)量?jī)x 檢測(cè)潤(rùn)滑油元素機(jī)器 潤(rùn)滑油檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)儀器設(shè)備機(jī)器 油品中鐵元素含量檢測(cè)測(cè)定儀器機(jī) 元素成分檢測(cè)儀器,ROHS檢測(cè)儀,ROHS2.0檢測(cè),電鍍膜厚檢測(cè)儀,金屬元素檢測(cè)儀,重金屬檢測(cè)儀,有害元素檢測(cè)儀,合金成分檢測(cè)儀,鋼鐵…
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產(chǎn)品品牌TCM
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更新日期2022-07-26 12:30
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品牌: |
TCM |
所在地: |
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起訂: |
≥66 臺(tái) |
供貨總量: |
66666 臺(tái) |
有效期至: |
長(zhǎng)期有效 |
測(cè)量精度: |
ppm |
測(cè)量時(shí)間: |
60秒 |
測(cè)量精度 | ppm |
---|---|
測(cè)量時(shí)間 | 60秒 |
測(cè)試范圍 | 0-99.989% |
產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
電源電壓 | 220VHZ |
類型 | 多元素分析儀器 |
上市時(shí)間 | 2019 |
適用范圍 | 0-99.989%濃度值 |
品牌 | 其它 |
加工定制 | 是 |
可測(cè)元素 | 多元素 |
我公司銷售產(chǎn)品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長(zhǎng)色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(jì)(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質(zhì)譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質(zhì)譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測(cè)等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質(zhì):鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質(zhì)采礦(各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備)、塑料(無鹵測(cè)試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析,化合物測(cè)試,電鍍鍍層厚度檢測(cè)等。
對(duì)于地質(zhì)、采礦、金屬、土壤、環(huán)境、考古、木材、電子、醫(yī)藥、環(huán)保、啤酒、電力、石油化工、玩具、大型工程、有害元素、鍋爐制造、電鍍鍍層、再生資源金屬、玻璃等各種元素分析.有兩種分析方法,物理分析和濕化學(xué)分析.物理分析一般是用X熒光光譜儀測(cè)試,使用簡(jiǎn)單方便,濕化學(xué)分析一般是指實(shí)驗(yàn)室使用的高精度分析設(shè)備,精度高,測(cè)試穩(wěn)定,結(jié)果可信度高。
X射線熒光光譜分析儀:
X射線熒光光譜分析儀 應(yīng)對(duì)有害元素檢測(cè)、油品分析、礦石分析、合金分析、電鍍鍍層、環(huán)境分析的產(chǎn)品,目前正服務(wù)于各大重要部門。
油品分析儀簡(jiǎn)介
XRF油品分析儀,主要用于潤(rùn)滑油、柴油燃料、噴氣燃料、煤油、其他蒸餾油、揮發(fā)油、殘油、液壓油、原油、無鉛汽油、酒精汽油、生物柴油和其他類似的石油產(chǎn)品等油品中的硫元素、磨損金屬、元素添加劑、污染物等的分析。
油品分析儀主要特點(diǎn)
易便攜:不到11KG ,單手柄可提,使“現(xiàn)場(chǎng)作業(yè)”成為可能
超快速:一分鐘快速檢測(cè),使“按質(zhì)換油”成為可能
高精度:分辨率高、重復(fù)性好使“準(zhǔn)確測(cè)量”成為可能
多元素:性價(jià)比非常高,分析多種常見元素,使“全面分析”成為可能
油品分析儀技術(shù)性能
真正實(shí)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行無損、快速、準(zhǔn)確的檢測(cè),直接顯示元素的ppm含量與百分比含量。
只需將樣品杯取樣,放在測(cè)試槽。
超快分析速度, 僅需1鐘就可檢測(cè)出元素含量。
用戶化Windows XPSP2操作系統(tǒng)系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場(chǎng)完成,用戶化Windows XPSP2操作系統(tǒng)僅保留有windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能,使程序更具靈活性。
無需借助電腦,可在現(xiàn)場(chǎng)隨意,查看,放大相關(guān)元素的光譜圖。
超大的功率。50KV,100MA高達(dá)5W的大功率X射線管技術(shù)使儀器具有更低檢測(cè)下限。
更高的檢測(cè)精度,多次測(cè)試的平均值統(tǒng)計(jì)功能可有效地提高儀器的檢測(cè)精度。
超大的圖標(biāo)顯示,菜單式驅(qū)動(dòng),微電腦WINDOWS系統(tǒng)使儀器操作更加簡(jiǎn)便。
電磁干擾被屏蔽,即使在靠近手機(jī)或雙向無線通信裝置處也能正常工作。
超高的穩(wěn)定性,超高的重復(fù)性,優(yōu)異的線性相關(guān)性。
采用了完全重新設(shè)計(jì)的射線管、無高壓電源線、無 RF 噪音、更好的X射線屏蔽。
結(jié)構(gòu)更精密,縮短了射線管、探測(cè)器與被測(cè)樣品之間的距離,某些應(yīng)用信號(hào)提高了~40%.
新的濾波輪更輕、更薄,在位置上更加接近被測(cè)樣品,具有8 個(gè)濾波器,可適應(yīng)配置,不同的元素采用不同的濾波器,產(chǎn)生分析效果。
儀器有專用的槽式散熱裝置,整個(gè)體系使散熱非常有效,延長(zhǎng)機(jī)器壽命, X射線分析儀工作更加更穩(wěn)定,從而故障率極低。
SDD X射線探測(cè)器具有驚人的計(jì)數(shù)率,高達(dá)200000,比普通的Si-Pin X射線探測(cè)器獲取數(shù)據(jù)的能力高10倍。
可測(cè)試Mg;Al;Si;P;S等輕質(zhì)元素。
儀器即使在開機(jī)狀態(tài)下也可更換電池而并不需要關(guān)機(jī),在系統(tǒng)運(yùn)作中拔掉電池,有超過30秒的時(shí)間可以插入一個(gè)新電池。
儀器開機(jī)并不需要標(biāo)準(zhǔn)化,可以直接測(cè)試,標(biāo)準(zhǔn)化僅僅是可選項(xiàng)。
油品分析儀可分析的元素
油品分析儀的分析模式與元素種類 | |
分析模式 | 分析元素 |
Analysis Elements in Beam 1-50KV | Primary: Sr Zr Mo Ag Cd Sn Sb Ba Also: Ti Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Hg As Se Pb Rb Le |
| |
Analysis Elements in Beam 2-25KV | Primary: Fe Ni Cu Zn Also: Ca V Cr Pb Le |
Analysis Elements in Beam 3-12KV | Primary: P S Cl Ca Cr Also : V Fe Le |
儀器的檢測(cè)下限
元素 | 檢測(cè)下限 |
Al | 100 |
Si | 50 |
P | 25 |
S | 8 |
Cl | 15 |
Mo | 1 |
Ca | 7 |
V | 1 |
Mg | 1 |
Fe | 1 |
Co | 1 |
Ni | 1 |
Cu | 1 |
Zn | 1 |
Hg | 1 |
As | 1 |
Pb | 1 |
Se | 1 |
實(shí)驗(yàn)室使用的儀器(ICP):
儀器技術(shù)參數(shù):
1、輸入電源:電壓交流220V,電流20A。
2、采用CzernyTurner型光路,焦距為1000mm。
3、離子刻蝕全息光柵,刻劃面積(80×110)mm。
4、全自動(dòng)一鍵點(diǎn)火,自動(dòng)匹配,點(diǎn)火穩(wěn)定、便捷。
5、采用同心圓霧化器搭配旋流霧室,1ppmMn強(qiáng)度>1000000cps。
6、分辨率(Mn257、610nm):≤0、005nm(4320刻線光柵);≤0、008nm(3600刻線光柵);≤0、015nm(2400刻線光柵)。
7、波長(zhǎng)范圍:190-460nm(4320刻線光柵);190-500nm(3600刻線光柵);190-800nm(2400刻線光柵)
8、自主研發(fā)全固態(tài)射頻電源,輸出功率800-1600W,連續(xù)可調(diào),電源效率大于65%,工作頻率27、12MHz,頻率穩(wěn)定性<0、05%,功率輸出穩(wěn)定性<0、05%。
詳細(xì)指標(biāo)參數(shù)如下:
光柵刻線 | 光柵:2400刻線 | 光柵:3600刻線 | 光柵:4320刻線 | |
波長(zhǎng) | 范圍 | 190nm-800nm | 190nm-500nm | 190nm-420nm |
示值誤差 | ±0.03nm | ±0.03nm | ±0.03nm | |
重復(fù)性 | ≦0.005nm | ≦0.005nm | ≦0.005nm | |
最小光譜帶寬 | Mn 257.610nm 半高寬≦0.030nm | Mn 257.610nm 半高寬≦0.015nm | Mn 257.610nm 半高寬≦0.007nm | |
檢出限/(ug/L) | Zn(213.856nm)≦ 3.0 Ni(231.604nm)≦ 10.0 Mn(257.610nm)≦ 2.0 Cr(267.716nm)≦ 7.0 Cu(324.754nm)≦ 7.0 Ba(455.403nm)≦ 1.0 | Zn(213.856nm)≦ 3.0 Ni(231.604nm)≦ 10.0 Mn(257.610nm)≦ 2.0 Cr(267.716nm)≦ 7.0 Cu(324.754nm)≦ 7.0 Ba(455.403nm)≦ 1.0 | Zn(213.856nm)≦ 3.0 Ni(231.604nm)≦ 10.0 Mn(257.610nm)≦ 2.0 Cr(267.716nm)≦ 7.0 Cu(324.754nm)≦ 7.0 Ba(455.403nm)≦ 1.0 | |
重復(fù)性 | 3號(hào)溶液 RSD≤1.5% | 3號(hào)溶液 RSD≤1.5(%) | 3號(hào)溶液 RSD≤1.5(%)) | |
穩(wěn)定性 | 3號(hào)溶液 RSD≤2% | 3號(hào)溶液 RSD≤2% | 3號(hào)溶液 RSD≤2% |
典型元素檢出限(μg/L):
元素 | La | Ce | Pr | Nd | Sm | Eu | Gd | Tb |
波長(zhǎng)(nm) | 408.672 | 413.765 | 414.311 | 401.225 | 360.946 | 381.967 | 342.247 | 350.917 |
檢出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | < 10.0 | < 1.0 | <10.0 | < 3.0 |
元素 | Dy | Ho | Er | Tm | Yb | Lu | Y | Sc |
波長(zhǎng)(nm) | 353.170 | 345.600 | 337.271 | 313.126 | 369.419 | 261.541 | 371.030 | 335.373 |
檢出限 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <3.0 | <1.0 | <1.0 |
元素 | Ta | Nb | Mn | Mg | B | Zn | Co | Si |
波長(zhǎng)(nm) | 226.230 | 313.340 | 257.610 | 279.553 | 249.773 | 13.856 | 228.616 | 251.611 |
檢出限 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <10.0 | <3.0 | <3.0 | <10.0 |
元素 | Ni | Cd | Fe | Ca | Mo | V | Be | Ti |
波長(zhǎng)(nm) | 232.003 | 226.502 | 239.562 | 393.366 | 281.615 | 310.230 | 313.041 | 334.941 |
檢出限 | <5.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 | <1.0 | <3.0 |
元素 | Cu | Cr | Al | Zr | Ag | Sr | Au | Pt |
波長(zhǎng)(nm) | 324.754 | 267.716 | 396.152 | 343.823 | 328.068 | 407.771 | 242.795 | 265.945 |
檢出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 |
元素 | Pd | Ir | Rh | Ru | Ba |
波長(zhǎng)(nm) | 340.458 | 224.268 | 343.489 | 240.272 | 455.403 |
檢出限 | <5.0 | <10.0 | <10.0 | <5.0 | <1.0 |
元素 | As | Sb | Bi | Hg | Pb | Ga | Se |
波長(zhǎng)(nm | 228.812 | 206.833 | 223.061 | 253.652 | 220.353 | 294.364 | 203.985 |
檢出限 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤10 |
元素 | Sn | Te | Ta | Th | Tl | Re | Ge |
波長(zhǎng)(nm) | 242.949 | 214.281 | 226.230 | 283.730 | 276.787 | 227.525 | 209.426 |
檢出限 | ≤20 | ≤10 | ≤5.0 | ≤10 | ≤30 | ≤5 | ≤15 |
元素 | Os | W | Se | Li | Na | K |
波長(zhǎng)(nm) | 225.585 | 207.911 | 203.985 | 670.784 | 588.995 | 766.490 |
檢出限 | ≤1 | ≤10 | ≤30 | ≤3 | ≤20 | ≤60 |
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